Catalogue en ligne Bibliothèque de Faculté de Physique

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ISBD

Titre : ????.??? ????????? : ?????? ??????? ?????????
Type de document : texte imprimé
Auteurs : ???? ???? ???????, Auteur
Editeur : ??????? : ????????
Année de publication : 2008
Importance : 386?.
Présentation : ???????????? ???? ????????
Format : 28??.
ISBN/ISSN/EAN : 978-977-358-163-3
Note générale : ?????????? ?.386
Langues : Arabe (ara)
Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=920

????.??? ????????? : ?????? ??????? ????????? [texte imprimé] / ???? ???? ???????, Auteur . - ??????? : ????????, 2008 . - 386?. : ???????????? ???? ???????? ; 28??.
ISBN : 978-977-358-163-3
?????????? ?.386
Langues : Arabe (ara)
Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=920

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An introduction to x-ray crystallography / Michael M. WOOLFSON

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Titre : An introduction to x-ray crystallography
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Michael M. WOOLFSON, Auteur
Mention d'édition : 2 ed.
Editeur : CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS
Importance : 402 p.
Format : 27 cm.
ISBN/ISSN/EAN : 978-0-521-42359-5
Note générale : Index.
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Symetrie et physique micro
Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=1944

An introduction to x-ray crystallography [texte imprimé] / Michael M. WOOLFSON, Auteur . - 2 ed. . - CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS, [s.d.] . - 402 p. ; 27 cm.
ISBN : 978-0-521-42359-5
Index.
Langues : Anglais (eng)
Mots-clés : Symetrie et physique micro
Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=1944

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Caractérisation microstructurale des matériaux / Claude Esnouf

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Titre : Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Claude Esnouf, Auteur
Editeur : Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes
Année de publication : cop. 2011
Collection : METIS LyonTech
Importance : 1 vol. (XVI-579 p.)
Présentation : ill., fig., graph., couv. ill. en coul.
Format : 24 cm
ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-884-5
Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=2058

Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, cop. 2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., fig., graph., couv. ill. en coul. ; 24 cm. - (METIS LyonTech) .
ISBN : 978-2-88074-884-5
Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=2058

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Cristallographie geometrique et radiocristallographie / Mohamed OUMEZZINE

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Titre : Cristallographie geometrique et radiocristallographie : eléments de cours et exercices corrigés
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Mohamed OUMEZZINE, Auteur ; Sadok ZEMNI, Auteur
Editeur : Centre de publication universitaire
Année de publication : 2008
Importance : 219 p
Format : 27 cm.
ISBN/ISSN/EAN : 978-9973-37-376-0
Note générale : Index.
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Symetrie et physique micro
Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=1947

Cristallographie geometrique et radiocristallographie : eléments de cours et exercices corrigés [texte imprimé] / Mohamed OUMEZZINE, Auteur ; Sadok ZEMNI, Auteur . - Centre de publication universitaire, 2008 . - 219 p ; 27 cm.
ISSN : 978-9973-37-376-0
Index.
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Symetrie et physique micro
Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=1947

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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallons / René GUINEBRETIERE

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Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallons
Type de document : texte imprimé
Auteurs : René GUINEBRETIERE, Auteur
Editeur : Paris : Lavoisier
Année de publication : 2002
Importance : 287 p.
Format : 27 cm.
ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-0557-4
Note générale : Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Symetrie et physique micro
Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=1950

Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallons [texte imprimé] / René GUINEBRETIERE, Auteur . - Paris : Lavoisier, 2002 . - 287 p. ; 27 cm.
ISBN : 978-2-7462-0557-4
Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Symetrie et physique micro
Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=1950
$Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallons$

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Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / Vitalij k. PECHARSKY

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High-Resolution transmission electron microscopy and associated techniques / Peter BUSECK

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Du microscopique au macroscopique T.1 / Roger BALIAN

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Du microscopique au macroscopique T.2 / Roger BALIAN

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Modeling Solar Radiation at the Earth's Surface / Viorel BADESCU

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Personne compétente en radioprotection / Christine JIMONET

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Radioprotection (Paris. 1966), (2006). Guide pratique radionucléides et radioprotection / D. Delacroix

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Radioprotection pratique pour l'industrie et la recherche (sources non scellées) / Hugues BRUCHET

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Radioprotection pratique pour l'industrie et la recherche (sources scellées) / Jean-Claude Moreau

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Soft x-rays and extreme ultraviolet radiation / David ATTWOOD

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