Microscopie électronique à balayage et microanalyses / François Brisset

Public ISBD Titre : Microscopie électronique à balayage et microanalyses Type de document : texte imprimé Auteurs : François Brisset, Éditeur scientifique ; GN-MEBA Ecole d'été sur la microanalyse et la microscopie électronique à balayage, Éditeur scientifique ; Monique Repoux, Jacky Ruste, François Grillon... [et al.], Collaborateur Editeur : Les Ulis : EDP sciences Année de publication : 2008 Importance : 1 vol. (XXXVI-892 p.) Présentation : ill. en noir et en coul., couv. ill. en coul. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7598-0082-7 Note générale : Notes bibliogr. Index Langues : Français (fre) Catégories : 05-15-Rayons et microscopiques. Mots-clés : Microscopes  electroniques a balayage  Microscopie electronique  Technique  Microstructure (physique)  Analyse Index. décimale : 05-15-04fp Résumé : Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses. Note de contenu : Les interactions électron-matière Le rayonnement X caractéristique, le rayonnement de freinage Les canons à électrons en MEB Les éléments de l'optique électronique Les techniques du vide Les détecteurs utilisés dans le MEB La formation et l'optimisation de l'image en MEB Guide d'utilisation pratique du MEB La microscopie à pression contrôlée La microscopie à pression contrôlée - Applications Le spectromètre de rayons X à sélection d'énergie (EDS) L'analyse EDS Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=415 Microscopie électronique à balayage et microanalyses [texte imprimé] / François Brisset, Éditeur scientifique ; GN-MEBA Ecole d'été sur la microanalyse et la microscopie électronique à balayage, Éditeur scientifique ; Monique Repoux, Jacky Ruste, François Grillon... [et al.], Collaborateur . - Les Ulis : EDP sciences, 2008 . - 1 vol. (XXXVI-892 p.) : ill. en noir et en coul., couv. ill. en coul. ; 25 cm. ISBN : 978-2-7598-0082-7 Notes bibliogr. Index Langues : Français (fre) Catégories : 05-15-Rayons et microscopiques. Mots-clés : Microscopes  electroniques a balayage  Microscopie electronique  Technique  Microstructure (physique)  Analyse Index. décimale : 05-15-04fp Résumé : Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses. Note de contenu : Les interactions électron-matière Le rayonnement X caractéristique, le rayonnement de freinage Les canons à électrons en MEB Les éléments de l'optique électronique Les techniques du vide Les détecteurs utilisés dans le MEB La formation et l'optimisation de l'image en MEB Guide d'utilisation pratique du MEB La microscopie à pression contrôlée La microscopie à pression contrôlée - Applications Le spectromètre de rayons X à sélection d'énergie (EDS) L'analyse EDS Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=415

Réservation

Réserver ce document

Exemplaires(1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
401	05-15-04fp	Livre	Bibliothèque de La faculté de physique	04Electricité .	Accès Libre Disponible

---

1 (1 - 1 / 1) Par page : 25 50 100 200