Titre :	Mesures sur les transistors
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	H. ARCISZEWSKI, Auteur
Editeur :	Éditions Chiron
Année de publication :	1967
Importance :	664p
Présentation :	ill.;
Format :	24cm × 16 cm
Langues :	Français (fre) Langues originales : Français (fre)
Catégories :	ELECTRONIQUE:02 Mesures - Schémas- Circuits électroniques
Mots-clés :	Paramètres de fonctionnement  Paramètres S  Caractérisation des semi-conducteurs  Analyse des quadripôles  Instrumentation de mesure et bancs de test  Impédance et adaptation.
Résumé :	L'ouvrage Mesures sur les transistors de H. Arciszewski (publié aux Éditions Chiron en 1967) est une référence technique majeure de la collection du C.N.E.T. Ce livre de 664 pages détaille les méthodes, montages et instruments pour caractériser les transistors. Il combine théorie des semi-conducteurs et travaux pratiques en laboratoire.Le livre détaille les méthodes de mesure et de caractérisation des transistors. Il aborde les paramètres fondamentaux (tels que le gain, les tensions de seuil ou le courant) et l'utilisation des montages de base. Il décrit l'utilisation d'appareils de mesure spécifiques et l'application des paramètres S pour l'adaptation d'impédance.

Mesures sur les transistors [texte imprimé] / H. ARCISZEWSKI, Auteur . - Ã‰ditions Chiron, 1967 . - 664p : ill.; ; 24cm × 16 cm.
Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre)

Catégories :	ELECTRONIQUE:02 Mesures - Schémas- Circuits électroniques
Mots-clés :	Paramètres de fonctionnement  Paramètres S  Caractérisation des semi-conducteurs  Analyse des quadripôles  Instrumentation de mesure et bancs de test  Impédance et adaptation.
Résumé :	L'ouvrage Mesures sur les transistors de H. Arciszewski (publié aux Éditions Chiron en 1967) est une référence technique majeure de la collection du C.N.E.T. Ce livre de 664 pages détaille les méthodes, montages et instruments pour caractériser les transistors. Il combine théorie des semi-conducteurs et travaux pratiques en laboratoire.Le livre détaille les méthodes de mesure et de caractérisation des transistors. Il aborde les paramètres fondamentaux (tels que le gain, les tensions de seuil ou le courant) et l'utilisation des montages de base. Il décrit l'utilisation d'appareils de mesure spécifiques et l'application des paramètres S pour l'adaptation d'impédance.