Problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels / Titu I. Băjenescu

Public ISBD Titre : Problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels Type de document : texte imprimé Auteurs : Titu I. Băjenescu, Auteur Editeur : MASSON PARIE MILAN BARCELONE Année de publication : 1980 Importance : 240 p Présentation : ill., Format : 21 cm x 29.5 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-225-69960-3 Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre) Catégories : ELECTRONIQUE ELECTRONIQUE:01 Electronique Génerale Mots-clés : analyse statistique : Utilisation de lois mathématiques (Loi de Weibull, Loi d'Arrhenius) pour modéliser la survie des composants  sûreté de fonctionnement  vieillissement accéléré  tests de déverminage (Burn-in)  taux de défaillance  physique des défaillances  composants actifs  Fiabilité (Reliability). Résumé : L'ouvrage est une référence académique et technique majeure dans le domaine de l'électronique de la fin du XXe siècle. Bien que publié en 1980, ce livre pose les bases méthodologiques de l'analyse de fiabilité pour les composants semi-conducteurs (diodes, transistors, circuits intégrés) qui étaient alors en pleine expansion technologique. l'auteur étudie des mécanismes internes (thermiques, chimiques, mécaniques) qui causent la dégradation des composants. il presente des méthodes statistiques comme application de modèles mathématiques pour prédire la durée de vie opérationnelle et les taux de panne pour tester la qualification il présente des tests de vieillissement accéléré et de déverminage (burn-in) nécessaires pour garantir la robustesse des composants avant leur mise sur le marché. il determine les composants actifs comme un focus spécifique sur les éléments capables de modifier un signal électrique (amplification, commutation), par opposition aux composants passifs comme les résistances ou condensateurs. Cet ouvrage appartient à une série de publications de Băjenescu qui ont servi de guides pratiques aux ingénieurs pour passer d'une approche empirique de la panne à une véritable science de la Sûreté de Fonctionnement. Ses travaux ultérieurs, comme Reliability of Electronic Components (1999), ont continué de développer ces concepts pour les technologies modernes. Problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels [texte imprimé] / Titu I. Băjenescu, Auteur . - MASSON PARIE MILAN BARCELONE, 1980 . - 240 p : ill., ; 21 cm x 29.5 cm. ISBN : 978-2-225-69960-3 Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre) Catégories : ELECTRONIQUE ELECTRONIQUE:01 Electronique Génerale Mots-clés : analyse statistique : Utilisation de lois mathématiques (Loi de Weibull, Loi d'Arrhenius) pour modéliser la survie des composants  sûreté de fonctionnement  vieillissement accéléré  tests de déverminage (Burn-in)  taux de défaillance  physique des défaillances  composants actifs  Fiabilité (Reliability). Résumé : L'ouvrage est une référence académique et technique majeure dans le domaine de l'électronique de la fin du XXe siècle. Bien que publié en 1980, ce livre pose les bases méthodologiques de l'analyse de fiabilité pour les composants semi-conducteurs (diodes, transistors, circuits intégrés) qui étaient alors en pleine expansion technologique. l'auteur étudie des mécanismes internes (thermiques, chimiques, mécaniques) qui causent la dégradation des composants. il presente des méthodes statistiques comme application de modèles mathématiques pour prédire la durée de vie opérationnelle et les taux de panne pour tester la qualification il présente des tests de vieillissement accéléré et de déverminage (burn-in) nécessaires pour garantir la robustesse des composants avant leur mise sur le marché. il determine les composants actifs comme un focus spécifique sur les éléments capables de modifier un signal électrique (amplification, commutation), par opposition aux composants passifs comme les résistances ou condensateurs. Cet ouvrage appartient à une série de publications de Băjenescu qui ont servi de guides pratiques aux ingénieurs pour passer d'une approche empirique de la panne à une véritable science de la Sûreté de Fonctionnement. Ses travaux ultérieurs, comme Reliability of Electronic Components (1999), ont continué de développer ces concepts pour les technologies modernes.

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Code-barres	numéro d'inventaire	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
6172/7	09/01/0068	Livre	Bibliothèque IGCMO	Documentaires	Disponible

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