| Titre : |
Conception et etude de la fiabilité des amplificateurs de puissance : Fonctionnant aux fréquences Millimétriques en Technologies CMOS Avancées |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Thomas Quémerais, Auteur |
| Editeur : |
Berlin : Editions Universitaires Europeennes |
| Année de publication : |
2011 |
| Importance : |
216 p. |
| Présentation : |
couv. ill. en coul., ill. |
| Format : |
21,9 cm. |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-613-1-54475-0 |
| Langues : |
Français (fre) |
| Catégories : |
ELECTROTECHNIQUE
|
| Index. décimale : |
10-05 Electronique de puissance et industrielle |
| Résumé : |
Avec l''émergence d''applications millimétriques telles que le radar automobile ou le WHDMI, la fiabilité est devenue un enjeu extrêmement important pour l''industrie. Dans un émetteur/récepteur radio, les problèmes de fiabilité concernent principalement les transistors MOS intégrés dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement élevé des puissances. Ce livre concerne la conception et l''étude de la fiabilité des amplificateurs de puissance fonctionnant aux fréquences millimétriques en technologies CMOS avancées. Le mémoire est articulé autour de quatre chapitres. Les deux premiers chapitres concernent l''étude, la conception, la modélisation et la caractérisation des éléments actifs et passifs intégrés sur silicium et utilisés pour réaliser des amplificateurs de puissance aux fréquences millimétriques. Le 3ème chapitre décrit les trois amplificateurs de puissance conçus et réalisés pour les tests de fiabilité. Enfin, le dernier chapitre propose une étude complète de la fiabilité de ces circuits jusqu''au calcul de leur temps de vie |
| Note de contenu : |
Table des matières
Chapitre 1: Les structures passives des technologies CMOS
Chapitre 2: Les transistors MOS des technologies CMOS
Chapitre 3: La conception d'amplificateurs de puissances dédiés aux tests de fiabilité
Chapitre 4: L'étude de la fiabilité des amplificateurs de puissance à 60 GHz en technologie CMOS 65 nm
-Conclusion de la thèse
-Annexes |
Conception et etude de la fiabilité des amplificateurs de puissance : Fonctionnant aux fréquences Millimétriques en Technologies CMOS Avancées [texte imprimé] / Thomas Quémerais, Auteur . - Berlin : Editions Universitaires Europeennes, 2011 . - 216 p. : couv. ill. en coul., ill. ; 21,9 cm. ISBN : 978-613-1-54475-0 Langues : Français ( fre)
| Catégories : |
ELECTROTECHNIQUE
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| Index. décimale : |
10-05 Electronique de puissance et industrielle |
| Résumé : |
Avec l''émergence d''applications millimétriques telles que le radar automobile ou le WHDMI, la fiabilité est devenue un enjeu extrêmement important pour l''industrie. Dans un émetteur/récepteur radio, les problèmes de fiabilité concernent principalement les transistors MOS intégrés dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement élevé des puissances. Ce livre concerne la conception et l''étude de la fiabilité des amplificateurs de puissance fonctionnant aux fréquences millimétriques en technologies CMOS avancées. Le mémoire est articulé autour de quatre chapitres. Les deux premiers chapitres concernent l''étude, la conception, la modélisation et la caractérisation des éléments actifs et passifs intégrés sur silicium et utilisés pour réaliser des amplificateurs de puissance aux fréquences millimétriques. Le 3ème chapitre décrit les trois amplificateurs de puissance conçus et réalisés pour les tests de fiabilité. Enfin, le dernier chapitre propose une étude complète de la fiabilité de ces circuits jusqu''au calcul de leur temps de vie |
| Note de contenu : |
Table des matières
Chapitre 1: Les structures passives des technologies CMOS
Chapitre 2: Les transistors MOS des technologies CMOS
Chapitre 3: La conception d'amplificateurs de puissances dédiés aux tests de fiabilité
Chapitre 4: L'étude de la fiabilité des amplificateurs de puissance à 60 GHz en technologie CMOS 65 nm
-Conclusion de la thèse
-Annexes |
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