Analyse structurale et chimique des matériaux / Jean-Pierre Eberhart

Public ISBD Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre Eberhart, Auteur Editeur : Paris : Dunod Année de publication : 1989 Importance : 614 p. Présentation : ill., couv. ill. Format : 26 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-04-018797-2 Note générale : Notes bibliogr. Bibliogr. p. 597-603. Index Langues : Français (fre) Catégories : CHIMIE ; génie chimique Mots-clés : Matériaux Rayonnements Atome Diffraction Production Spectrométrie Microscopie èlectronique Grandeurs Matériaux:effets des rayonnements  Matériaux:analyse  Spectroscopie  Matériaux:structure  Surfaces(technologie):analyse  Microscopie électronique:technique Index. décimale : 06-05 Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique [texte imprimé] / Jean-Pierre Eberhart, Auteur . - Paris : Dunod, 1989 . - 614 p. : ill., couv. ill. ; 26 cm. ISBN : 978-2-04-018797-2 Notes bibliogr. Bibliogr. p. 597-603. Index Langues : Français (fre) Catégories : CHIMIE ; génie chimique Mots-clés : Matériaux Rayonnements Atome Diffraction Production Spectrométrie Microscopie èlectronique Grandeurs Matériaux:effets des rayonnements  Matériaux:analyse  Spectroscopie  Matériaux:structure  Surfaces(technologie):analyse  Microscopie électronique:technique Index. décimale : 06-05

Exemplaires(1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
771	06-05-116/A	Livre	Bibliothèque de la Faculté de Chimie	Documentaires	Exclu du prêt

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