Titre :	Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Jean-Pierre Eberhart, Auteur
Editeur :	Paris : Dunod
Année de publication :	1989
Importance :	614 p.
Présentation :	ill., couv. ill.
Format :	26 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-2-04-018797-2
Note générale :	Notes bibliogr. Bibliogr. p. 597-603. Index
Langues :	Français (fre)
Catégories :	CHIMIE ; génie chimique
Mots-clés :	Matériaux Rayonnements Atome Diffraction Production Spectrométrie Microscopie èlectronique Grandeurs Matériaux:effets des rayonnements  Matériaux:analyse  Spectroscopie  Matériaux:structure  Surfaces(technologie):analyse  Microscopie électronique:technique
Index. décimale :	06-05

Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique [texte imprimé] / Jean-Pierre Eberhart, Auteur . - Paris : Dunod, 1989 . - 614 p. : ill., couv. ill. ; 26 cm.
ISBN : 978-2-04-018797-2
Notes bibliogr. Bibliogr. p. 597-603. Index
Langues : Français (fre)

Catégories :	CHIMIE ; génie chimique
Mots-clés :	Matériaux Rayonnements Atome Diffraction Production Spectrométrie Microscopie èlectronique Grandeurs Matériaux:effets des rayonnements  Matériaux:analyse  Spectroscopie  Matériaux:structure  Surfaces(technologie):analyse  Microscopie électronique:technique
Index. décimale :	06-05