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Catégorie Symetrie et physique micro

> PHYSIQUE > Symetrie et physique micro

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An introduction to x-ray crystallography / Michael M. WOOLFSON / Cambridge university press

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Titre : An introduction to x-ray crystallography
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Michael M. WOOLFSON, Auteur
Mention d'édition : 2 ed.
Editeur : Cambridge university press
Importance : 402 p.
Format : 27 cm.
ISBN/ISSN/EAN : 978-0-521-42359-5
Note générale : Index.
Langues : Anglais (eng)
Catégories : PHYSIQUE:Symetrie et physique micro

Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro

An introduction to x-ray crystallography [texte imprimé] / Michael M. WOOLFSON, Auteur . - 2 ed. . - Cambridge university press, [s.d.] . - 402 p. ; 27 cm.
ISBN : 978-0-521-42359-5
Index.
Langues : Anglais (eng)
Catégories : PHYSIQUE:Symetrie et physique micro

Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro

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0 0001 00057192 5 05-15-04 Livre Bibliothèque Centrale Documentaires Disponible

Cristallographie geometrique et radiocristallographie / Mohamed OUMEZZINE / Centre de publication universitaire (2008)

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Titre : Cristallographie geometrique et radiocristallographie : eléments de cours et exercices corrigés
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Mohamed OUMEZZINE, Auteur ; Sadok ZEMNI, Auteur
Editeur : Centre de publication universitaire
Année de publication : 2008
Importance : 219 p
Format : 27 cm.
ISBN/ISSN/EAN : 978-9973-37-376-0
Note générale : Index.
Langues : Français (fre)
Catégories : PHYSIQUE:Symetrie et physique micro

Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro

Cristallographie geometrique et radiocristallographie : eléments de cours et exercices corrigés [texte imprimé] / Mohamed OUMEZZINE, Auteur ; Sadok ZEMNI, Auteur . - Centre de publication universitaire, 2008 . - 219 p ; 27 cm.
ISSN : 978-9973-37-376-0
Index.
Langues : Français (fre)
Catégories : PHYSIQUE:Symetrie et physique micro

Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro

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0 0001 00105405 3 05-15-19 Livre Bibliothèque Centrale Documentaires Disponible

Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallons / René GUINEBRETIERE / Paris [France] : Lavoisier (2002)

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Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallons
Type de document : texte imprimé
Auteurs : René GUINEBRETIERE, Auteur
Editeur : Paris [France] : Lavoisier
Année de publication : 2002
Importance : 287 p.
Format : 27 cm.
ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-0557-4
Note générale : Index
Langues : Français (fre)
Catégories : PHYSIQUE:Symetrie et physique micro

Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro

Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallons [texte imprimé] / René GUINEBRETIERE, Auteur . - Paris [France] : Lavoisier, 2002 . - 287 p. ; 27 cm.
ISBN : 978-2-7462-0557-4
Index
Langues : Français (fre)
Catégories : PHYSIQUE:Symetrie et physique micro

Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
$Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallons$

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0 0001 00088915 2 05-15-14 Livre Bibliothèque Centrale Documentaires Disponible

Electron-beam interactions with solids / Maurizio DAPOR / Springer (2003)

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Titre : Electron-beam interactions with solids : application of the monte carlo method to electron scattering problems, with 27 figures
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Maurizio DAPOR, Auteur
Editeur : Springer
Année de publication : 2003
Importance : 103 p.
Format : 27 cm.
ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-00652-7
Note générale : Index.
Langues : Anglais (eng)
Catégories : PHYSIQUE:Symetrie et physique micro

Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro

Electron-beam interactions with solids : application of the monte carlo method to electron scattering problems, with 27 figures [texte imprimé] / Maurizio DAPOR, Auteur . - Springer, 2003 . - 103 p. ; 27 cm.
ISBN : 978-3-540-00652-7
Index.
Langues : Anglais (eng)
Catégories : PHYSIQUE:Symetrie et physique micro

Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro

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0 0001 00088445 0 05-15-11 Livre Bibliothèque Centrale Documentaires Disponible

Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / Vitalij k. PECHARSKY / Springer (2009)

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Titre : Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Vitalij k. PECHARSKY, Auteur ; Peter Y. ZAVALIJ, Auteur
Mention d'édition : 2 ed.
Editeur : Springer
Année de publication : 2009
Importance : 741 p.
Format : 26 cm.
ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-09578-3
Note générale : Index.
Langues : Anglais (eng)
Catégories : PHYSIQUE:Symetrie et physique micro

Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro

Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials [texte imprimé] / Vitalij k. PECHARSKY, Auteur ; Peter Y. ZAVALIJ, Auteur . - 2 ed. . - Springer, 2009 . - 741 p. ; 26 cm.
ISBN : 978-0-387-09578-3
Index.
Langues : Anglais (eng)
Catégories : PHYSIQUE:Symetrie et physique micro

Index. décimale : 05-15 Symetrie et physique micro
$Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials$

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0 0001 00105404 6 05-15-20 Livre Bibliothèque Centrale Documentaires Disponible

High-Resolution transmission electron microscopy and associated techniques / Peter BUSECK / OXFORD (1988)

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Du microscopique au macroscopique T.1 / Roger BALIAN / Ellipses (1982)

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Du microscopique au macroscopique T.2 / Roger BALIAN / Ellipses (1982)

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Modeling Solar Radiation at the Earth's Surface / Viorel BADESCU / Springer (2008)

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Personne compétente en radioprotection / Christine JIMONET / 2009

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Radioprotection pratique pour l'industrie et la recherche (sources non scellées) / Hugues BRUCHET / EDP Sciences (2009)

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Radioprotection pratique pour l'industrie et la recherche (sources scellées) / Jean-Claude Moreau / Les Ulis : EDP sciences (DL 2010)

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Radioprotection / Gérard Marey / Paris : Ellipses (DL 2014)

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Soft x-rays and extreme ultraviolet radiation / David ATTWOOD / Cambridge university press (1999)

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Spectroscopie moléculaire / Emile BIEMONT / de boeck (2008)

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