Test de circuits et de systèmes intégrés / Christian LANDRAULT / Paris [France] : Lavoisier (2004)

Public ISBD Aucun avis sur cette notice. Faire une suggestion d'achat Titre : Test de circuits et de systèmes intégrés Type de document : texte imprimé Auteurs : Christian LANDRAULT, Auteur Editeur : Paris [France] : Lavoisier Année de publication : 2004 Collection : EGEM électronique- génie électrique microsystèmes Importance : 325 p. Format : 24 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-0864-3 Langues : Français (fre) Catégories : ELECTRONIQUE:Mésures- schémas -circuits électroniques Index. décimale : 09-02 Mésures- schémas -circuits électroniques Test de circuits et de systèmes intégrés [texte imprimé] / Christian LANDRAULT, Auteur . - Paris [France] : Lavoisier, 2004 . - 325 p. ; 24 cm.. - (EGEM électronique- génie électrique microsystèmes) . ISBN : 978-2-7462-0864-3 Langues : Français (fre) Catégories : ELECTRONIQUE:Mésures- schémas -circuits électroniques Index. décimale : 09-02 Mésures- schémas -circuits électroniques

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Code-barres	type de document	numéro d'inventaire	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
00001000908978	09-02-0336	Livre	Salle 2	Documentaires	Exclu du prêt		157443

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