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Test de circuits et de systèmes intégrés [texte imprimé] / Christian LANDRAULT, Auteur . - Paris [France] : Lavoisier, 2004 . - 325 p. ; 24 cm.. - (EGEM électronique- génie électrique microsystèmes) . ISBN : 978-2-7462-0864-3 Langues : Français (fre)
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Exemplaires(1)
| Code-barres | type de document | numéro d'inventaire | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 00001000908978 | 09-02-0336 | Livre | Salle 2 | Documentaires | Exclu du prêt | 157443 |

